와이어 하네스 시험 장비 선택 방법

시험 사양과 커넥터 맵에서 하네스 시험기를 선택하십시오. 회로 수만으로는 시스템을 정의할 수 없습니다. 전압, 저항 한계, 스캔 순서, 픽스처, 작업자 상호 작용 및 추적성이 더 중요할 수 있습니다. 시험이 잡아야 할 결함과 출하 시 필요한 증거부터 시작한 다음, 실제 하네스 커넥터에 대해 픽스처를 검증하십시오.

필수 검사 매핑

임계값은 제품 도면 또는 고객 시험 사양을 사용하십시오. 커넥터가 비슷해 보인다는 이유만으로 다른 하네스의 한계를 복사하지 마십시오.

커넥터 맵에서 시험 포인트 계산

필요한 차폐 및 커넥터 셸 연결을 포함하여 픽스처가 처리해야 하는 모든 전기적 접점을 계산하십시오. 두 커넥터 사이에 64개의 독립 전선이 있는 단순 하네스의 경우, 기본 두 선식 스캔은 일반적으로 128개의 시험 포인트를 사용합니다. 이는 포인트와 회로 간의 보편적인 변환이 아니라 배선 예시입니다. 분기 및 공유 연결은 맵을 변경합니다.

네 선식 시험은 별도의 전류 및 전압 감지 연결을 추가합니다. 따라서 확장 용량은 완전한 픽스처 맵, 시험 방법 및 스위칭 배열에 대해 견적되어야 합니다. 시험기의 예비 커넥터가 나중에 더 많은 포인트나 더 높은 전압 시험을 추가할 수 있다는 것을 증명하지는 않습니다.

두 선식 또는 네 선식 측정 필요 여부 결정

두 선식 저항 측정에서는 시험 리드 및 접촉 저항이 판독값에 기여합니다. 네 선식 또는 켈빈 측정은 전류 경로와 감지 경로를 분리하여 감지 포인트 외부의 저항을 제외할 수 있습니다. 해당 포인트의 위치가 여전히 포함되는 것을 정의합니다. Cirris는 네 선식 켈빈 시험 개요에서 원리를 설명합니다.

필요한 한계와 측정 불확도를 사용하여 방법을 선택하십시오. 표시 분해능을 정확도와 혼동하지 마십시오. 작은 저항 변화가 중요할 때는 시험 전류와 픽스처 접점의 허용 기여도도 지정하십시오.

당사의 WM-814는 도통 저항 범위를 0.1–50 Ω으로 표시합니다. 하한값은 100 mΩ이며, 1 mΩ 합격 요구 사항에 대한 적합성을 입증하지 않습니다. 더 낮은 저항 작업의 경우, 측정 아키텍처, 픽스처 및 정확도를 견적서에서 확인할 수 있도록 필요한 한계와 커넥터 맵을 보내십시오.

육안 검사와 전기 검사를 분리 유지

카메라는 보이는 전선 색상과 위치를 검사할 수 있습니다. 보이지 않는 접합부를 통한 전기적 도통을 확립할 수는 없습니다. 반대로, 도통 결과가 모든 필수 색상이 올바르다는 것을 증명하지는 않습니다. 도면에서 둘 다 요구하는 경우 둘 다 사용하고, 알려진 색상, 라우팅 및 전기적 결함으로 시스템을 검증하십시오.

절연 저항과 절연 내전압도 서로 다른 질문에 답합니다. 하나는 지정된 조건에서 절연 저항을 측정하고, 다른 하나는 합의된 전압 스트레스와 누설 기준에서 생존 여부를 확인합니다. 연결된 구성품의 처리 방식을 포함하여 전압, 지속 시간, 한계 및 제외 사항을 시험 사양에서 설정하십시오.

검사 계획에 장비 일치

WM-814 하네스 도통 시험기는 공개된 포인트 및 측정 범위 내에서 여러 전기 시험을 결합합니다. WM-815 색상 감지 시스템은 전기적 무결성이 아니라 가시적 순서 및 삽입 검사를 처리합니다. WM-813 압착 단면 시스템은 라인 끝 도통 시험기가 아니라 파괴적 공정 감사입니다.

생산 통합 지정

픽스처 교체, 바코드 또는 작업 선택, 합격/불합격 인터록, 결과 저장, 작업자 권한 및 재시험 규칙을 정의하십시오. 시스템이 거부해야 할 불량을 감지한다는 것을 입증하기 위해 알려진 양품 마스터와 제어된 결함 샘플을 포함하십시오.

픽스처, 시험 프로그램, 결함 샘플 및 결과를 기록하려면 샘플 시험 합격 체크리스트를 사용하십시오. 전기 시험 전 종단 품질에 대해서는 압착력 모니터링, 인장 시험 및 단면 분석을 비교하십시오.

EV 하네스, 제어반 배선 및 배터리 팩 조립 가이드는 서로 다른 검사 우선순위를 보여줍니다. 승인된 측정 시험은 사례 라이브러리에 나타납니다. 시스템 크기 산정을 위해 커넥터 맵, 회로 목록 및 전체 시험 사양을 보내십시오.